當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > EQE/光子-電子轉(zhuǎn)換測(cè)試 > 損耗缺陷分析 > REPS Ultra太陽(yáng)能電池Voc損耗分析儀
簡(jiǎn)要描述：光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個(gè)完整的系統(tǒng)，可以幫助科學(xué)家測(cè)量、計(jì)算和分析工作中的太陽(yáng)能電池中的 Voc-loss，并為下一步的工藝改進(jìn)提供思路。
產(chǎn)品型號(hào)：REPS Ultra廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-03-14訪 問(wèn) 量： 9337產(chǎn)品分類
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| 品牌 | Enlitech | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源 | EL-EQE?un-repeatability | <1% |
| EL-EQE?un-reproducibility | <1.5% | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
| 測(cè)量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
為了將轉(zhuǎn)換效率推至熱力學(xué)極限，有機(jī)太陽(yáng)能電池和鈣鈦礦太陽(yáng)能電池努力將開(kāi)路電壓（Voc）提高至Shockley-Queisser極限。 全新設(shè)計(jì)的REPS_Ultra是一個(gè)綜合系統(tǒng)，幫助科學(xué)家測(cè)量、計(jì)算和分析工作中太陽(yáng)能電池的Voc損失，并提供改進(jìn)建議。
1.探索科學(xué)的極限：REPS_Ultra通過(guò)提供準(zhǔn)確而全面的數(shù)據(jù)，使研究人員能夠探索科學(xué)的極限。
2.優(yōu)異的弱光偵測(cè)性能：創(chuàng)新型的REPS_Ultra可以偵測(cè)低至10-6% nit的弱光亮度，具有8個(gè)數(shù)量級(jí)的動(dòng)態(tài)范圍。 這一性能比前代REPS_Pro提高了1,000倍，比市場(chǎng)上其他同類產(chǎn)品的4個(gè)數(shù)量級(jí)動(dòng)態(tài)范圍強(qiáng)10,000倍。 其優(yōu)異的極弱光偵測(cè)能力特別適合有機(jī)材料或新型材料研究，可協(xié)助研究團(tuán)隊(duì)探索科學(xué)的極限。
3.提升的量測(cè)速度：全新設(shè)計(jì)的REPS_Ultra比前代REPS_Pro的量測(cè)速度顯著提升了30%，可在30秒內(nèi)完成40個(gè)點(diǎn)位掃描，大幅提升研究團(tuán)隊(duì)的效率。
● 可測(cè)量：絕對(duì)電致發(fā)光量子效率 (EL-EQE)、電致發(fā)光光譜隨電壓的變化 [EL光譜(V)]、電流-電壓特性曲線 (J-V曲線)、外量子效率-電流密度曲線 (EQE-J)。
● 軟件可以顯示的圖表包括：EL-EQE、多EL光譜、JVL曲線、Voc loss 直方圖。
● 該系統(tǒng)可以計(jì)算和分析熱力學(xué)Voc、輻射復(fù)合Voc和非輻射復(fù)合Voc。
● 波長(zhǎng)檢測(cè)范圍：300~1100nm; 并且可以擴(kuò)展（選配）。
● NIST可追溯的絕對(duì)輻射校準(zhǔn)（瓦特，從300~1100納米）。
● EL-EQE檢測(cè)范圍：1 x 10-6% （8 orders）。
● EL-EQE重複性>99%。
● EL-EQE reproducibility >99%.
● Glove Box 整合工具包。
● 客制的測(cè)試夾具。
REPS系統(tǒng)另有進(jìn)階類型（REPS Pro），其規(guī)格比較如下：
Enlitech REPS Voc損耗分析儀可用于：
● 改善OPV的Voc-loss
● 改善鈣鈦礦 Voc-loss
●電荷傳輸狀態(tài)識(shí)別
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